ЕЛЕКТРОННО-ЗОНДОВИЙ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНИЙ МІКРОАНАЛІЗ ТА ЙОГО ЗАСТОСУВАННЯ ДЛЯ АНАЛІТИЧНОГО ВИЗНАЧЕННЯ ФОСФОРУ
УДК 543.426
Ключові слова:
електронно-зондовий рентгеноспектральний мікроаналіз, експрес-аналіз, визначення фосфоруАнотація
Електронно-зондовий рентгеноспектральний мікроаналіз (РСМА) використано для визначення фосфору у феросплавах та лігатурах. Показано, що цей експрес-метод аналітичного визначення вмісту фосфору має ряд переваг порівняно з добре відомим спектрофотометричним методом. Коректність отриманих результатів електронно-зондового мікроаналізу визначали методом "присутнє-знайдено". Задовільна відповідність між результатами РСМА та даними, одержаними за стандартною спектрофотометричною методикою, підтверджує їх достовірність. РСМА характеризується достатньою точністю, що досягається шляхом підбору речовини-стандарту, який забезпечує врахування матричного ефекту, і відтворюваністю результатів вимірів. РСМА доцільно використовувати для визначення мікрокількостей фосфору у промислових високолегованих сплавах з метою контролю якості їх виробництва.
Посилання
1. Karmanov N.S., Account of the background in wavelength dispersive X-Ray electron probe microanalysis based on the simulation of Bremsstrahlung X-radiation / Karmanov N.S., Kanakin S.V., Karmanova N.G. // J. Anal. Chem. – 2009. – V. 64. – № 4. – P. 372–378.
2. Козлов В.В. Системы рентгеноспектрального микроанализа Inca Energy и Inca Wave / В.В. Козлов // Перспективные технологии, обору-дование и системы для материаловедения и наноматериалов: Матери-алы конференции и семинара / под ред. проф. Л.В.Кожитова. – М.: Интерконтакт Наука; Усть-Каменогорск: ВКГТУ, 2008. – С. 106–122.
3. Количественный электронно-зондовый микроанализ: пер. с англ. А.И. Козленкова / под ред. Скотта В., Лава Г. – М.: Мир, 1986. – 352 с.
4. Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis: Third Edition / Goldstein J., Newbery D.E., Joy D.C. et al. – New York: Springer, 2003. – 689 p.
5. Черепин В.Т. Методы и приборы для анализа поверхности мате-риалов / В.Т. Черепин, М.А. Васильєв. – K: Наукова думка, 1982. – 400 c.
6. ГОСТ 13230.4-93. Ферросилиций. Метод определения фосфора.
7. ГОСТ 21876.5-76. Ферромарганец. Методы определения фосфо-ра.
8. Матвеев Д.В. Методика измерений структуры поверхности и эле-ментного состава образцов методами сканирующей электронной мик-роскопии и рентгеноспектрального анализа / Д.В. Матвеев, А.А. Мазил-кин. – Черноголовка: Изд. ИФТТ РАН, 2009. – 18 c.
9. Рид С.Дж.Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая элек-тронная микроскопия в геологии: пер. с англ. И.М. Романенко / С.Дж.Б. Рид. – М.: Технгосфера, 2008. – 232 с.
10. Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy / Lyman C.E., Newbury D.E., Goldstein, et al. – New York: Plenum Press, 1990. – 407 p.
11. Measurement of chemical state change of phosphorus during mev-proton irradiation by a high-resolution wavelength-dispersive pixe system / Tada T., Wonglee S., Fukuda H. et al. // Int. J. of PIXE. – 2009. – V. 19. – № 1/2. – С. 9–15.
12. Лісняк В.В. Формування і фізико-хімічні властивості складних
d-металвмісних гетерогенних систем та їх каталітична активність у реак-ціях окиснення Н2, СО та СН4 [Текст] : дис. … д-ра хім. наук /
Лісняк В.В. – К, 2014. – 329 с.
13. Pennycook S.J. Scanning Transmission Electron Microscopy, Imaging and Analysis. / S.J. Pennycook, P.D. Nellist. – New York: Springer, 2011. – 762 p.
14. Beaman D.R. Electron Beam Microanalysis. / D.R. Beaman, J.A. Isasi. – Philadelphia: ASTM Press, 1972. – 79 p.
Завантаження
Опубліковано
Номер
Розділ
Ліцензія
Авторське право (c) 2014 В. Лісняк, д-р хім. наук
Ця робота ліцензується відповідно до ліцензії Creative Commons Attribution 4.0 International License.
